Метод отраженного оптического излучения
Метод отраженного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
|
|
|
Лидеры продаж Шаблон Ушерова-Маршака - 890 рублей с НДС 
 Комплект ВИК "Сварщик"  Комплект ВИК "Энергетик"  Учебные плакаты по неразрушающему контролю  Фотоальбом дефектов основного металла  Комплект ВИК "Поверенный"  Гель для УЗК «Сигнал-1»  Универсальный шаблон сварщика УШС-3  Альбом радиографических снимков  Учебное пособие по визуальному и измерительному контролю. Цена: 990 руб.  Профилометр Mitutoyo Surftest SJ-210  Поверка средств измерений  Пленка ренгеновская Fujifilm IX80 9х12 Envelopak + Pb 50 листов. Цена: 8 736 руб. Пленка рентгеновская Fujifilm IX100 10х24 Envelopak + Pb 50 листов. Цена: 14 196 руб. Пленка рентгеновская Fujifilm IX100 9х12 Envelopack+Pb 50 листов. Цена: 8 736 руб.  Мы на маркетплейсах! ПоискДокументы
|
