Словарь определений
Оптический структуроскоп: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Оптический толщиномер: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Световое сечение: освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Тёмное поле: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Светлое поле: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Стробоскопическое облучение: облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Когерентное облучение: облучение объекта контроля когерентным излучением.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Метод разностного оптического изображения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Оптический неразрушающий контроль: неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Контраст дефекта: отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них, либо их сумме.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Видимость дефекта: отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Метод прошедшего оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Метод отраженного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Метод рассеянного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного от объекта контроля.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Метод собственного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
Метод индуцированного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.
Источник – ГОСТ Р 53696-2009.
