Акустический метод свободных колебаний:  метод акустического неразрушающего контроля, основанный на возбуждении свободно затухающих упругих колебаний в объекте контроля или его части и анализе параметров этих колебаний.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Резонансный акустический метод:  метод акустического неразрушающего контроля, основанный на возбуждении вынужденных упругих колебаний в объекте контроля или его части и анализе параметров колебаний системы "объект контроля - преобразователь" при резонансах или вблизи них.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Зеркально-теневой акустический метод:  метод акустического неразрушающего контроля, основанный на анализе акустических импульсов после двукратного или многократного их прохождения через объект контроля и регистрации дефектов по обусловленному ими изменению амплитуды сигнала, отраженного от донной поверхности.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Эхозеркальный акустический метод:  акустический метод отражения, основанный на анализе параметров акустических импульсов, отраженных от дефекта и донной поверхности объекта контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Реверберационный акустический метод:  акустический метод отражения, основанный на анализе времени объемной реверберации в объекте контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Эхоимпульсный акустический метод:  акустический метод отражения, основанный на анализе параметров акустических импульсов, отраженных от дефектов и поверхностей объекта контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустический метод отражения:  метод акустического неразрушающего контроля, основанный на излучении акустических колебаний, отражении их от поверхности раздела двух сред и анализе параметров отраженных импульсов.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Велосимметрический акустический метод:  акустический метод прохождения, основанный на анализе изменения скорости упругих волн, обусловленного наличием дефекта в объекте контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Временной теневой акустический метод:  акустический метод прохождения, основанный на анализе увеличения времени прохождения упругих колебаний, обусловленного наличием дефекта в объекте контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Теневой акустический метод:  акустический метод прохождения, основанный на анализе уменьшения амплитуды прошедшей волны, обусловленного наличием дефекта.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустический метод прохождения:  метод акустического неразрушающего контроля, основанный на излучении и приеме волн, однократно прошедших через объект контроля в любом направлении, и анализе их параметров.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Преобразователь акустического прибора неразрушающего контроля:  часть акустического прибора неразрушающего контроля, состоящая из излучающего и (или) приемного устройства, предназначенная для выработки электрических сигналов измерительной информации.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Сигнал акустического прибора неразрушающего контроля:  электрический или акустический сигнал, функционально связанный с контролируемыми параметрами объекта контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустический прибор неразрушающего контроля:  Акустическое средство неразрушающего контроля, состоящее из электронного блока и акустического блока или преобразователей, вспомогательных и регистрирующих устройств, использующее методы акустического неразрушающего контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустическая структуроскопия:  определение структуры материала объекта контроля методами акустического неразрушающего контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустическая толщинометрия:  измерение толщины объекта контроля методами акустического неразрушающего контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустическая дефектометрия:  измерение параметров дефектов, оценка их вида и ориентации в объекте контроля методами акустического неразрушающего контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустическая дефектоскопия:  акустический неразрушающий контроль на наличие дефекта типа нарушения сплошности и однородности.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Акустический неразрушающий контроль:  неразрушающий контроль, основанный на применении упругих колебаний, возбуждаемых или возникающих в объекте контроля.

Источник – ГОСТ 23829-85.

Стигматическое облучение:  облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Телецентрическое облучение:  облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Сканирующее облучение:  облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Полихроматическое облучение:  облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Когерентное облучение:  облучение объекта контроля когерентным излучением.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Стробоскопическое облучение:  облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Светлое поле:  освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Тёмное поле:  освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Световое сечение:  освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Оптический толщиномер:  прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Оптический структуроскоп:  прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Лазерный эллипсометр:  прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Оптический дефектоскоп:  прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Приемное устройство:  часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Оптическая система:  часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля:  часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения объекта контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Прибор неразрушающего контроля оптический:  система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для оптического неразрушающего контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Метод муаровых полос:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Метод спекл-структур оптического излучения:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Метод спекл-интерферометрии оптического излучения:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Метод фотоэлектрического оптического излучения:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Метод разностного оптического изображения:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Метод согласованной фильтрации оптического излучения:  метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Магнитооптический метод оптического излучения: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля магнитного поля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Электрооптический метод оптического излучения: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля внешнего электрического поля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Фотолюминесцентный метод оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Оптико-акустический метод оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.

Фотохимический метод оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

Источник – ГОСТ Р 53696-2009.